CCTO
CCTO (CaCu3Ti4O12) untuk Pigmen Penandaan Laser, penyaringan LDS/MID, dan rute belajar keramik elektronik.
Material Overview
| Struktur | Fungsi | Mekanisme |
|---|
| CaCu3Ti4O12; serbuk dielektrik keramik | CCTO mendukung Pigmen Penandaan Laser, penyaringan LDS/MID, dan rute studi keramik elektronik dengan izin tinggi. | Untuk LDS/MID, memenuhi syarat aktivasi laser, kontinuitas pelapisan, adhesi, dan batas kerusakan polimer pada kondisi pemrosesan akhir. |
| Material elektroda internal, terminasi, dan dielektrik MLCC | RUTE STUDI YANG DIKONFIRMASI - penelitian dielektrik, dengan fase, dispersi, sintering, permitivitas, kehilangan, kebocoran, dan validasi keandalan. | Hanya persetujuan rute; memvalidasi kadar, formulasi, proses, metode, kondisi, dan batas keandalan yang tepat. |
Kesesuaian aplikasi
| Aplikasi | Kesesuaian | Kondisi | Batasan |
|---|
| Pigmen penandaan laser | BERSYARAT | Minta data yang disetujui | Minta data yang disetujui |
| LDS/MID | SESUAI | Memenuhi syarat polimer, pengaturan laser, wadah pelapisan, pemuatan, dan menelusuri geometri secara bersamaan. | Jangan menyimpulkan kesiapan metalisasi dari respons laser yang terlihat; memerlukan aktivasi, kontinuitas pelapisan, adhesi, ketahanan, dan bukti kerusakan. |
Key Properties
| Category | Sifat | Nilai | Metode |
|---|
| Stabilitas kimia | CAS Number | 12336-91-3 | |
| Stabilitas kimia | Komposisi | CaCu3Ti4O12 | |
| Particle characteristics | Ukuran partikel | Kelas mikro: D50 1–3 μm; D90 3–5 m. Kelas nano: D50 75–100 nm. | Grade-specific distribution |
| Material identity | Morfologi | serbuk keramik oksida perovskit kisi kubik | |
| Material identity | Purity of CCTO | 99,99% (nilai mikro dan nano) | Grade table |
| Electrical properties | Dielectric constant | Kelas mikro: 250.000. Nilai nano: >310.000. | Tabel nilai; kondisi pengujian tidak disebutkan dalam TDS |
| Electrical properties | Dielectric loss (tan δ) | Kelas mikro: <0,3. Nilai nano: 0,2425. | Tabel nilai; kondisi pengujian tidak disebutkan dalam TDS |
Benchmark Positioning
| Material | Difference | Boundary |
|---|
| CCTO | Gunakan sebagai rute penyaringan oksida keramik di mana polimer akhir, aktivasi laser, dan kondisi pelapisan dapat dievaluasi bersama. | Untuk LDS/MID, CCTO memerlukan aktivasi, kontinuitas pelapisan, adhesi, ketahanan, kerusakan polimer, dan bukti stabilitas dimensi sebelum seleksi. |
Wawasan teknis terkait
| Insight | Mekanisme | Relevance |
|---|
Material terkait
| Type | Material | Reason |
|---|
| complement | Pigmen penandaan laser | Konteks penyerap untuk kontras tanda visual, respons panjang gelombang, dan kompatibilitas media; Aktivasi LDS/MID memerlukan bukti terpisah. |
| complement | LDS/MID | Rute oksida keramik yang memenuhi syarat untuk aktivasi laser dan penyaringan sirkuit berlapis; mengevaluasi aktivasi, kontinuitas pelapisan, adhesi, ketahanan, dan kerusakan polimer secara bersamaan. |
Availability & Handling
| Field | Nilai |
|---|
| Kondisi penyimpanan | Wadah kering dan tertutup rapat |
| Batasan penanganan | Minta data yang disetujui |
| Pertimbangan dispersi atau pemrosesan | Minta data yang disetujui |
| Catatan keselamatan atau stabilitas | Minta data yang disetujui |
Process Relevance
Relevansi proses CCTO harus dievaluasi melalui kontrol ukuran partikel, energi dispersi, pembasahan, ketebalan lapisan, plafon pemuatan, jendela reologi, stabilitas penyimpanan, dan aktivasi laser.
Constraint Map
Menyaring CCTO berdasarkan ukuran partikel, morfologi, dispersi, batas pemuatan, matriks matriks, viskositas/reologi, stabilitas penyimpanan, dampak warna, efek dielektrik, respons laser, kesiapan dokumentasi, dan kompatibilitas pemrosesan.
Selection Boundaries
Gunakan CCTO ketika aplikasi target dapat memvalidasi respons berdasarkan pengikat aktual, pemuatan, ketebalan lapisan, kondisi laser, dan persyaratan dokumen. Hindari bila warna, kabut, viskositas, ukuran partikel, penyimpanan, respons laser, atau kesiapan TDS/SDS masih belum terselesaikan.
Related Process Nodes
Node proses terkait: Kontrol Ukuran Partikel, Energi Dispersi, Pembasahan, Ketebalan Lapisan, Plafon Pemuatan, Jendela Reologi, Stabilitas Penyimpanan, Aktivasi Laser.
Related Constraint Nodes
Node kendala terkait: Ukuran Partikel, Morfologi, Dispersi, Batasan Pemuatan, Matriks matriks, Viskositas / Reologi, Stabilitas Penyimpanan, Dampak Warna, Efek Dielektrik, Respons Laser, Kesiapan Dokumentasi, Kompatibilitas Pemrosesan.
Documents
| Document | Status |
|---|
| Lembar data teknis | Lembar Data Teknis CCTO v2.1 tersedia untuk diunduh. |
| Lembar data keselamatan | Belum ada SDS publik yang disetujui untuk diunduh. |
