Cartographie de l'uniformité ESD sur les pièces, les revêtements, les films et les lots de production

Problem

Une lecture du point central ou une moyenne de lot peut masquer des défaillances au niveau des bords, des lignes de soudure, des nervures, des transitions d'épaisseur, des marges de l'âme, des débuts et des arrêts du revêtement, des joints, des jonctions et des contacts avec le sol. Un point non enregistré ne peut pas être attribué à des preuves matérielles ou de processus.

Le plan d'échantillonnage doit séparer la variation au sein d'une unité de la variation d'une unité à l'autre, d'une cavité à l'autre, d'une séquence à l'autre, de la position de la bande et d'un lot à l'autre. La mise en commun de ces niveaux détruit les informations nécessaires à la libération et aux décisions sur les causes profondes.

Mécanisme

La réponse ESD locale peut changer en fonction de la concentration de charge, de l'agglomération, de l'orientation, de la topologie du contact, de l'épaisseur, de la structure peau-noyau, du substrat, de la couverture du revêtement, du séchage ou du durcissement, de l'abrasion, de la contamination de la surface et du contact avec l'électrode.

Un modèle spatial n’est pas un mécanisme unique. La carte électrique doit être alignée sur la position de production et, si nécessaire, sur les preuves d'épaisseur, de composition, de morphologie, de surface et de processus avant qu'une cause ne soit attribuée.

Tradeoff

Les cartes denses augmentent la puissance de détection mais ajoutent du temps de mesure et peuvent perturber les surfaces sensibles. Les plans clairsemés devraient préserver les caractéristiques à haut risque et les pentes probables plutôt que de réduire la carte à des points centraux pratiques.

Une grille fixe permet de suivre les tendances des lots. Les points basés sur les caractéristiques capturent la géométrie et les effets de processus. Un plan de contrôle utile conserve souvent les deux : des coordonnées de référence stables et des caractéristiques critiques nommées.

Material Strategy

Pour les composés moulés ou formés contenant du noir de carbone conducteur, de l'oxyde d'antimoine et d'étain (ATO), des nanotubes de carbone à parois multiples (MWCNT), des nanotubes de carbone à quelques parois (FWCNT) ou des nanotubes de carbone à paroi unique (SWCNT), cartographiez le chemin d'écoulement, les soudures, les caractéristiques, l'épaisseur, la direction et la cavité.

Pour les revêtements et les films, y compris les itinéraires utilisant SWCNT-nano-Ag ou MXene, conservez les coordonnées du substrat, la direction du revêtement, le bord, le début et la fin, la position de la bande ou du panneau, les jonctions, les contacts et les couches de protection.

Recommended Architectures

Measurement & Validation

1. Dessinez le système de coordonnées et nommez les entités critiques avant de voir les données. Enregistrer la direction pour les surfaces anisotropes.
2. Sélectionnez les méthodes de surface, de feuille, de volume, de résistance au sol ou de fonction statique à partir du chemin prévu. Verrouillez les électrodes, la tension, la synchronisation, les contacts, la masse et le conditionnement.
3. Utilisez des échantillons de référence et des emplacements répétés pour séparer la répétabilité des mesures de la variation du produit.
4. Rapportez les résultats au niveau de l'emplacement, les distributions, les valeurs aberrantes, les points manquants et l'incertitude. Conservez l’unité, la généalogie et les coordonnées cartographiques de chaque résultat.
5. Confirmez la génération de charge, la décroissance statique, la décharge ou la fonction installée à des emplacements nominaux représentatifs et dans le pire des cas après une exposition pertinente.

PÉRIMÈTRE DE QUALIFICATION

Définissez l'unité, le lot, l'analyse, l'outil, la cavité, la position de la bande ou du panneau, la fréquence d'échantillonnage, les coordonnées de la carte, les étiquettes de caractéristiques et de direction, la préparation des échantillons, le conditionnement, la méthode, les électrodes, la tension, le temps, la masse, la plage de l'instrument, les contrôles de référence, les répétitions, l'incertitude, les contrôles fonctionnels, les limites d'acceptation et les règles de retest et de disposition.

Produits associés

• Noir de carbone conducteur
• ATO
• MWCNT
• FWCNT
• SWCNT
• SWCNT-nano-Ag
• MXene

Applications associées

• Matériaux ESD

Comparaisons associées

Aucune page de comparaison révisée n’est encore disponible. Les comparaisons d'homogénéité nécessitent la même carte enregistrée, la même méthode, le même conditionnement, le même niveau de généalogie et la même limite fonctionnelle.

Downloads & Engineering Support

L'étude de cas est un contexte de processus requis par l'approbation, et non une preuve d'uniformité spécifique à un produit, une pièce ou un lot.

• Demander la prise en charge du mappage ESD
• Discutez de la conception de la carte et des contrôles de mesure
• Discutez de la généalogie, de l’échantillonnage et de la libération des lots

What to Validate

La hiérarchie de mappage et les contrôles de reporting constituent des conseils d'ingénierie. Aucune allégation d'uniformité ou de conformité de lot n'est attribuée à un produit d'Aurexene Materials jusqu'à ce que des preuves approuvées au niveau de l'emplacement relient la qualité, l'hôte, le processus, la construction, la méthode, le conditionnement et la généalogie de production nommés.