Technical Insight

Epoksi Kalıplama Bileşiklerinde Nem, Boşluklar, Delaminasyon, Patlamış Mısır ve İyonik Kirlenme

Failure-analysis guide connecting epoxy molding compound moisture uptake, voids, interfacial delamination, reflow popcorning, ionic contamination, leakage, and migration.

Author: Aurexene Materials Engineering Team · Last updated: 2026-08-28

Hızlı Yanıt

Here EMC means epoxy molding compound. Separate the failure into moisture-mechanical and ionic-electrical branches, then reproduce it with recorded storage, bake, preconditioning, reflow, humidity, bias, residue, interface, and package geometry. Candidate labels below use Hexagonal Boron Nitride (hBN) and hBN x AlN (hBNxAlN). Moisture correlation alone does not identify the mechanism.

Problem

Delaminasyon, çatlaklar, sızıntı ve direnç kayması, neme maruz kalma ve yeniden akma sonrasında birlikte ortaya çıkabilir. Boşluklar, başlatıcı bir kusur, bir aktarım yolu ya da sadece tesadüfi bir gözlem olabilir. Konum ve risk geçmişi olmadan ekipler her olayı patlamış mısır olarak yanlış etiketleyebilir.

Mekanizma

Emilen nem arayüzlere doğru yayılabilir ve ısıtma sırasında buharlaşabilir. Buhar basıncı, sertleşme büzülmesi, CTE uyumsuzluğu, modül, zayıf yapışma ve mevcut boşluklar aynı paket üzerinde etkili olur. Ayrı olarak, hareketli iyonlar, su, iletken aralığı ve elektriksel öngerilim, sızıntıya veya elektrokimyasal geçişe neden olabilir.

Tradeoff

Observed failureCompeting mechanismsDiscriminating evidence
Yeniden akış sonrası delaminasyon veya çatlakNem basıncı, zayıf arayüz, boşluk, kürlenme veya CTE gerilimiAkustik harita öncesi/sonrası, bölüm, nem geçmişi, kürlenme durumu, yapışma, kuru kontrol
Sızıntı veya izolasyon kaybıİyonik kalıntı, nem yolu, iletken geometrisi, malzeme bozulmasıSIR/ECM kaydı, iyon analizi, sapma ve tarafsız kontroller, mikroskopi
Metalik büyüme veya korozyonElektrokimyasal migrasyon, galvanik yol, kirlenmeKompozisyon haritası, başlangıç/varış elektrotları, nem, sapma, aralık, kalıntı

Tablo ayırıcı tanıdır. Her satırda listelenen teyit edici kanıtlar gereklidir; semptom benzerliği paketler arasında temel nedeni aktarmak için yeterli değildir.

Material Strategy

hBN veya hBNxAlN değiştiğinde reçineyi, kürlemeyi, iyonik temizlik işlemini ve paket geometrisini sabit tutun. Paket arızasını dolgu adına atfetmek yerine nem alımını, arayüz bütünlüğünü, yalıtımı ve gerilimi ölçün.

  • Kuru ve şartlandırılmış kontroller: önceden var olan yapışma veya boşluk kusurlarını nemden kaynaklanan hasarlardan ayırt edin.
  • Önyargılı ve tarafsız kontroller: mekanik nem hasarını iyonik sızıntı ve migrasyondan ayırt edin.
  • Konumu koruyan analiz: Akustik, elektriksel, optik, kimyasal ve kesit kanıtlarını aynı paket bölgesine hizalayın.

Measurement & Validation

Bileşik partisini, alt tabakayı ve metal kaplamayı, kürlemeyi, fırınlamayı, kuru paket açmayı, zemin ömrünü, ön koşullandırmayı, yeniden akıtmayı, sıcaklık/nemi, eğilimi, iletken aralığını, kalıntıları ve arıza konumunu kaydedin. Uygun şekilde ön/son akustik mikroskopi, kesitler, yapışma veya kesme, nem ölçümü, yalıtım direnci veya ECM, iyonik analiz ve mikroskopi kullanın.

Qualification Boundary

IPC/JEDEC sınıflandırmaları ve IPC test yöntemleri, Aurexene Malzeme dolgusu veya müşteri paketi için evrensel bir kabul limiti değil, kontrollü prosedürleri tanımlar. Nihai limitler, örnekleme, konumlar ve başarısızlık kriterleri, paket sahibinin gözden geçirilmiş yeterlilik planını gerektirir.

  • Elektronik Paketleme ve Ara Bağlantılar

hBN ve AlN, yalıtım dolgusu farklılıklarını çerçeveleyebilir, ancak nem, iyonik ve paket arayüzü arızasının nihai bileşikte nitelendirilmesi gerekir.

Downloads & Engineering Support

  • Arıza analizi kanıtı kontrol listesi talep edin

Source Basis

Need to apply this boundary to a grade, formulation, test method, or production route? Discuss it with the Aurexene Materials Engineering Team.

Continue the engineering sequence

Next useful paths

A short, deterministic route to the next engineering task, decision comparison, evidence package, or relevant application library.

Validation

Malzeme Özelliğinden Sistem Performansına Termal ve Optik Ölçüm Sınırları

Continue to the validation guide for Electronic Packaging & Interconnects.

Validation

Verileri Aşırı Yorumlamadan XRD, Raman, XPS, FTIR ve Termal Analizi Kullanma

Continue to the validation guide for Electronic Packaging & Interconnects.

Qualification

Çarpıklık, Gerilim, Termal Döngü, Yalıtım, Lot Değişikliği ve Değişim Kontrolü için Nitelikli Epoksi Kalıplama Bileşikleri

Continue to the qualification guide for Electronic Packaging & Interconnects.

Decision comparison

hBN vs AlN

Compare the relevant material or architecture tradeoffs before narrowing the route.